華測儀器 HCCT-40H 多通道電容器溫度特性評價系統(tǒng)，面向多種電容器溫度特性測試場景而設計，可適配多種規(guī)格型號、不同通道數(shù)量的被測樣品，支持定制專屬電容測試線纜，匹配不同樣品封裝、排布與安裝工況，滿足多樣化樣品接入需求。

設備標配 64/80/128 通道，硬件架構支持靈活擴展，可拓展至 256 通道，可實現(xiàn)多路樣品同步并行測試，擺脫傳統(tǒng)單通道依次測試的效率問題，大幅優(yōu)化研發(fā)驗證、可靠性老化試驗的整體試驗效率。系統(tǒng)支持被測器件全部陣元的批量自動化檢測，單款被測樣品掃描時長不超過 1 分鐘；采用設備端逐通道自動巡檢機制，無需人工手動切換陣元通道，減少人為操作介入，減少人工切換帶來的操作誤差，優(yōu)化測試一致性。

電容測量覆蓋 1pF~1μF，測試頻率固定 1kHz，測量參數(shù)貼合電容器溫度特性評價標準要求。設備兼顧實驗室研發(fā)驗證、樣品測試以及產(chǎn)線批量篩查等多元化測試場景，既可用于新材料、新型電容器件的前期研發(fā)性能評估，也可用于大批量樣品可靠性考核、溫度環(huán)境下電容參數(shù)變化規(guī)律監(jiān)測，為電容器產(chǎn)品迭代、質(zhì)量管控提供溫度可靠的數(shù)據(jù)支撐。