
華測儀器熱釋電系數測試儀基于電荷積分法測試原理,搭載高阻抗微弱信號采集模塊,測試靈敏度可達 0.1mV,可準確捕捉樣品在變溫過程中產生的微弱熱釋電電荷信號。設備可自動分析熱釋電系數隨溫度、時間的變化曲線,直接輸出熱釋電圖譜,直觀表征材料熱釋電響應特性。整機采用直流電極加熱方案,可減少傳統油浴加熱引入的雜散電荷干擾,優化測試數據穩定性。溫度覆蓋室溫至 600℃,控溫精度 ±0.5℃,升降溫速率可在 1~5℃/min 區間可設定。
樣品適配性強,可支持圓片、方塊、長條、薄膜等多種規格試樣測試,普遍應用于鐵電、壓電功能材料及相關元器件的性能檢測、機理研究與產品評價。
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