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絕緣材料測試儀器

表面電位衰減測試系統/測試儀絕緣材料電阻評價平臺導通電阻測試系統電熱老化罐真空電熱老化測試系統高阻計擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗儀低壓/漏電起痕試驗儀導電與防靜電材料電阻率介電常數與介質損耗測試儀高溫直流測試系統

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Huace-991導電塑料體積電阻率試驗儀器

更新時間：2023-12-19

型號：Huace-991

瀏覽量：2103

導電塑料體積電阻率試驗儀器：在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性，本裝置采用四電極（四點探針或四探針）法測量導電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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高溫四探針測量系統Huace-600測試儀器

更新時間：2023-12-01

型號：

瀏覽量：2465

操控性好高溫四探針測量系統Huace-600測試儀器，該系統可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻，該設備按照單晶硅物理測試方法標準設計的。
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高溫直流電阻率測試系統

更新時間：2025-09-18

型號：

瀏覽量：3135

高溫直流電阻率測試系統HCGR-12KV： 1、采用超低紋波系數高壓直流電源，保證測試電壓的穩定度。 2、采用保障試驗人員及試驗設備的； 3、采用吉時利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動跟隨與切換，可以實時采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便
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高溫直流電阻率測試系統HCGR-12KV-北京華測

更新時間：2023-08-29

型號：

瀏覽量：3220

高溫直流電阻率測試系統HCGR-12KV-北京華測采集范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復合絕緣子技術條件
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時間自由設定高溫直流電阻率測試系統

更新時間：2023-08-29

型號：

瀏覽量：3010

時間自由設定高溫直流電阻率測試系統設備優勢： 1、采用超低紋波系數高壓直流電源，保證測試電壓的穩定度。 2、保障試驗人員及試驗設備的； 3、采用吉時利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動跟隨與切換，可以實時采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便；
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自動歸零高溫直流電阻率測試系統

更新時間：2024-06-13

型號：

瀏覽量：3074

自動歸零高溫直流電阻率測試系統適合范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復合絕緣子技術條件
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自動生成報表高溫直流電阻率測試系統

更新時間：2023-08-29

型號：

瀏覽量：2231

自動生成報表高溫直流電阻率測試系統設備優勢： 1、采用超低紋波系數高壓直流電源，保證測試電壓的穩定度。 2、保障試驗人員及試驗設備的； 3、采用吉時利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動跟隨與切換，可以實時采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便
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HC2661型手持式四探針測試儀器

更新時間：2024-06-13

型號：

瀏覽量：2293

HC2661型手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數據的統計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現場測試要求。
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