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  • HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗裝置測試儀器
    HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗裝置測試儀器

    更新時間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

    瀏覽量:1615

    觸摸屏高壓漏電起痕試驗裝置測試儀器根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規(guī)定的模擬試驗項目。
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  • HCLD-III電痕化漏電起痕試驗儀測試儀器
    HCLD-III電痕化漏電起痕試驗儀測試儀器

    更新時間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

    瀏覽量:1619

    電痕化漏電起痕試驗儀測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規(guī)定的模擬試驗項目。
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  • HCLD-III電工電子漏電起痕試驗儀/測試儀器
    HCLD-III電工電子漏電起痕試驗儀/測試儀器

    更新時間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

    瀏覽量:2157

    電工電子漏電起痕試驗儀/測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規(guī)定的模擬試驗項目。
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  • HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗儀
    HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗儀

    更新時間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

    瀏覽量:1721

    電氣絕緣材料漏電起痕試驗儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規(guī)定的模擬試驗項目。
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  • HCLD-III控制精密漏電起痕試驗儀測試儀器
    HCLD-III控制精密漏電起痕試驗儀測試儀器

    更新時間:2024-06-05

    型號:HCLD-III

    瀏覽量:1616

    控制精密漏電起痕試驗儀測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規(guī)定的模擬試驗項目。
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  • HCLD-III高壓漏電起痕試驗儀測試儀器
    HCLD-III高壓漏電起痕試驗儀測試儀器

    更新時間:2025-07-29

    型號:HCLD-III

    瀏覽量:1856

    高壓漏電起痕試驗儀測試儀器,是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》,UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規(guī)定的模擬試驗項目。
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  • Huace-300華測*絕緣材料表面體積電阻率測定機
    Huace-300華測*絕緣材料表面體積電阻率測定機

    更新時間:2024-06-05

    型號:Huace-300

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    Huace-300型華測*絕緣材料表面體積電阻率測定機符合標準GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》和《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》等標準的要求。
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  • Huace-300數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測定機
    Huace-300數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測定機

    更新時間:2024-12-12

    型號:Huace-300

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    Huace-300型數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測定機符合標準GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》和《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》等標準的要求。
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