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Huace離子遷移（CAF）評估系統

更新時間：2026-03-12

型號：Huace

瀏覽量：236

華測儀器離子遷移（CAF）評估系統離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
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HC-RD-1100高溫塞貝克系數與電阻測試系統

更新時間：2026-03-11

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：241

華測儀器HC-RD-1100高溫塞貝克系數與電阻測試系統是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
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HuaceSIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統

更新時間：2026-03-11

型號：Huace

瀏覽量：247

華測儀器SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統是通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試，觀察線路是否有瞬間短路的現象發生。
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HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數電阻測定儀

更新時間：2026-03-10

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：258

華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數電阻測定儀用于測量半導體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值(熱電優值)；評估材料在高溫(如1500°C)或特定環境(真空/還原氣氛)下的熱電轉換效率。
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HC-RD-1100塞貝克系數與電阻率測試儀

更新時間：2026-03-10

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：272

華測儀器HC-RD-1100塞貝克系數與電阻率測試儀是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
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HC-RD-1100Seebeck系數及電導率測試儀

更新時間：2026-03-09

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：268

華測儀器HC-RD-1100 Seebeck系數及電導率測試儀該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
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HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀

更新時間：2026-03-09

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：261

華測儀器HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
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HC-PAX多通道電流矩陣測試模塊

更新時間：2026-03-06

型號：HC-PAX

瀏覽量：299

華測儀器HC-PAX多通道電流矩陣測試模塊是一種模塊化的電流控制解決方案，支持單獨控制多路電流通道（8~128通道），可同時輸出/吸入精度可調的直流電流。
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