華測(cè)儀器HCRD-300L電容器薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀

價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書(shū)、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

HCRD-300L電容器薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試，該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶(hù)的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

產(chǎn)品參數(shù)

1、可放置卷芯長(zhǎng)度：50~2200mm

2、試驗(yàn)電壓精度：≤2%

3、測(cè)試電壓：DC：50V~6kV  AC：50V~5kV

4、電壓精度：2%

5、厚度范圍：450mm

6、產(chǎn)品移動(dòng)速度：3-10m/min連續(xù)可調(diào)

軟件功能

操作系統(tǒng)：支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化；

實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)：在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中可以動(dòng)態(tài)顯示電弱點(diǎn)數(shù)量、膜移動(dòng)距離等；

數(shù)據(jù)導(dǎo)出：試驗(yàn)結(jié)果方便導(dǎo)出；

實(shí)驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)告名稱(chēng)，并對(duì)實(shí)驗(yàn)報(bào)告進(jìn)行打印；

試驗(yàn)方式：直流試驗(yàn)和交流試驗(yàn)進(jìn)行選擇；

參數(shù)設(shè)置：可以根據(jù)不同的試驗(yàn)方式及試驗(yàn)方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值；

校準(zhǔn)功能：可針對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)設(shè)置；

警報(bào)功能：軟件具備電壓、電流警報(bào)功能。