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Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
華測儀器HCCT-40H多通道電容器溫變特性測試系統
價格僅供參考,如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例,歡迎致電我司技術工程師
HCCT-40H多通道電容器溫變特性測試系統由華測儀器生產,測試時系統可自動識別開路、短路類異常陣元,將測試結果以圖片、Excel 表格兩種格式存入對應被測物型號專屬文件夾。本系統兼顧操作便捷性與數據可追溯性,可滿足研發驗證、產線檢測、故障排查等不同測試場景需求。
測量性能
電容測量范圍:1pF~1μF
測量準度:± 0.3%
測試頻率:固定 1kHz
測試電平:0.1V~0.3V
測量模式:Cp并聯電容模式,適配電容測量特性
功能需求
多型號/通道數適配功能
針對不同型號、不同通道數被測物(主流 64/80/128 通道,可擴展至 256 通道),可定制專屬電容測試線;測試線接口與被測物匹配,和測試板插拔對接,規避接觸不佳問題。
校準功能
軟件內置電纜線校準功能:更換測試線后或每次啟動測試前,均需通過軟件執行線纜校準,減小測試線自身寄生電容與引線誤差,保障測量準度。
批量測試功能
支持被測物全部陣元批量檢測,單款被測物全自動掃描時長不超過 1 分鐘,設備逐通道自動巡檢,無需人工切換陣元。

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