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  • HCMP多點(diǎn)同步介電性能測(cè)試模塊
    HCMP多點(diǎn)同步介電性能測(cè)試模塊

    更新時(shí)間:2026-03-27

    型號(hào):HCMP

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    華測(cè)儀器HCMP多點(diǎn)同步介電性能測(cè)試模塊主要用于評(píng)估材料的介電性能與電阻特性,可以搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)等設(shè)備使用。
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  • HCCT-40H電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)
    HCCT-40H電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-03-26

    型號(hào):HCCT-40H

    瀏覽量:171

    華測(cè)儀器HCCT-40H電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合,效率采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。
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  • HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測(cè)試儀
    HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2026-03-26

    型號(hào):HC-RD-1100

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    華測(cè)儀器HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測(cè)試儀是一款簡(jiǎn)單易用的材料表征儀器,可以同時(shí)測(cè)定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。
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  • HCVD系列電阻分壓器
    HCVD系列電阻分壓器

    更新時(shí)間:2026-04-01

    型號(hào):HCVD系列

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    華測(cè)儀器HCVD系列電阻分壓器提供了一種可測(cè)量100kVdc、200kVdc或400kVdc 的高電壓的簡(jiǎn)便方法,其精度高于0.5%。此系列的分壓器要與高阻抗數(shù)字電壓表配合使用。
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  • Huace介質(zhì)絕緣性能劣化評(píng)估測(cè)試系統(tǒng)
    Huace介質(zhì)絕緣性能劣化評(píng)估測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-03-25

    型號(hào):Huace

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    華測(cè)儀器介質(zhì)絕緣性能劣化評(píng)估測(cè)試系統(tǒng)通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓,評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
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  • HCMP多通道介電絕緣電阻測(cè)試模塊
    HCMP多通道介電絕緣電阻測(cè)試模塊

    更新時(shí)間:2026-03-24

    型號(hào):HCMP

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    華測(cè)儀器HCMP多通道介電絕緣電阻測(cè)試模塊此測(cè)試模塊精度高、穩(wěn)定性強(qiáng)、實(shí)現(xiàn)智能化與自動(dòng)化、可靠耐用、模塊化設(shè)計(jì),可用于多通道介電與電阻測(cè)量,使其在材料科學(xué)、新能源、半導(dǎo)體領(lǐng)域中被普遍應(yīng)用。
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  • HuacePEA 空間電荷測(cè)試系統(tǒng)
    HuacePEA 空間電荷測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-03-23

    型號(hào):Huace

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    華測(cè)儀器PEA 空間電荷測(cè)試系統(tǒng)電聲脈沖法是一種無損的空間電荷測(cè)量技術(shù),它用于描述聚合物絕緣材料內(nèi)部的空間電荷分布、積累及其整體行為。
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  • HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數(shù)電阻測(cè)試儀
    HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數(shù)電阻測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2026-03-20

    型號(hào):HC-RD-1100

    瀏覽量:194

    華測(cè)儀器HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數(shù)電阻測(cè)試儀測(cè)量半導(dǎo)體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導(dǎo)率,計(jì)算ZT值(熱電優(yōu)值);評(píng)估材料在高溫或特定環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率。
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