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  • MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀
    MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀

    更新時間:2024-12-08

    型號:

    瀏覽量:3803

    華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗儀,為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計的。主要應(yīng)用于應(yīng)用領(lǐng)域:復(fù)合絕緣擦亮 、高分子絕緣材料 、無機(jī)絕緣材料 、有機(jī)絕緣材料 、其它絕緣材料等 。
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  • HCWP高溫介電溫譜測試系統(tǒng)
    HCWP高溫介電溫譜測試系統(tǒng)

    更新時間:2026-03-05

    型號:HCWP

    瀏覽量:24

    華測儀器HCWP高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用平行板電極法設(shè)計原理測量,重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙障蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度,同時抗干擾能力更強(qiáng)。
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  • HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀
    HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀

    更新時間:2024-12-12

    型號:HCWP-1000型

    瀏覽量:3177

    MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀,運用三電極法設(shè)計原理測量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度,同時抗擾能力強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • Huace450P北京華測高低溫介電溫譜儀
    Huace450P北京華測高低溫介電溫譜儀

    更新時間:2025-07-29

    型號:Huace450P

    瀏覽量:3667

    北京華測高低溫介電溫譜儀,設(shè)備測試頻率可達(dá)120MHz,采用直接聯(lián)接阻抗分析儀以減少測試導(dǎo)線的影響,同時電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。
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  • HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷
    HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷

    更新時間:2024-12-08

    型號:HCWP-1000

    瀏覽量:3077

    MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷,專用儀器是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計的。從專業(yè)角度來說,其實就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體.
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  • HCJD高低溫寬頻介電溫譜測試儀系統(tǒng)
    HCJD高低溫寬頻介電溫譜測試儀系統(tǒng)

    更新時間:2024-12-08

    型號:HCJD

    瀏覽量:4411

    華測高低溫介電溫譜測試儀系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度,同時抗擾能力強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀
    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀

    更新時間:2024-12-08

    型號:

    瀏覽量:3051

    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀,為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。
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  • 介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具
    介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具

    更新時間:2024-12-08

    型號:

    瀏覽量:4407

    介電溫譜試驗儀可測薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具,主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體,可測試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機(jī)電耦合系數(shù)等,同時可分析被測樣品隨溫度,頻率,時間變化的曲線,測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
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