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功能材料測試儀器

壓電陶瓷強場介電性能壓電材料電場應變特性的測試儀激光測振儀傳感器多功能綜合測試系統先進功能材料電測綜合測試系統長期耐腐蝕老化試驗平臺- 高電場介電、損耗、漏電流測試系統阻抗分析儀鐵電綜合材料測試系統鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數測試儀高溫介電溫譜測試儀熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺簡易探針臺高溫四探針測試儀多通道電流采集系統高真空退火爐電學綜合測試系統高溫管式爐測試儀漆包線擊穿耐壓試驗儀電化學遷移測試系統水平垂直燃燒測定機陶瓷材料閃燒試驗裝置導通電評估系統差熱分析儀

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華測高溫四探針測試儀器

更新時間：2024-06-06

型號：

瀏覽量：3984

HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器器系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
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HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器

更新時間：2023-08-09

型號：HGTZ-800

瀏覽量：3122

華測高溫四探針測試儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動生成報表。
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華測高溫四探針測試儀器居里溫度

更新時間：2024-06-12

型號：

瀏覽量：3481

華測高溫四探針測試儀器居里溫度采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。
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HCTZ-2四探針測試儀器

更新時間：2023-08-29

型號：HCTZ-2

瀏覽量：3135

HCTZ-2型數字式四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。
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HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：4076

HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
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HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀

更新時間：2023-08-29

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：3295

HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
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HCTZ-2S華測四探針測試儀

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：3589

HCTZ-2S華測四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
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HCTZ-2S北京華測四探針測試儀

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：3508

HCTZ-2S北京華測四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
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